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        產(chǎn)品詳情
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        通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡

        描述:SEM3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。
        大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。

        更新時間:2025-04-02
        訪問次數(shù):1478
        廠商性質(zhì):代理商
        詳情介紹

        產(chǎn)品特點(*為選配件)

        低電壓

        碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實形貌,細節(jié)更豐富。

        低電壓-碳高電壓-碳

        毛發(fā)樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時消除了荷電效應(yīng)。

        低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

        低真空

        過濾纖維管材料,導(dǎo)電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無需鍍膜即可實現(xiàn)對不導(dǎo)電樣品的直接觀察。

        低真空高真空

        大視場

        生物樣品,采用大視場觀察,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細節(jié),展現(xiàn)跨尺度分析。

        低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

        導(dǎo)航&防碰撞

        光學導(dǎo)航

        想看哪里點哪里,導(dǎo)航更輕松
        標配倉內(nèi)攝像頭,可拍攝高清樣品臺照片,快速定位樣品。

        光學導(dǎo)航
        手勢快捷導(dǎo)航

        可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動、框選放大,進行快捷導(dǎo)航
        如框選放大:在低倍導(dǎo)航下,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,提高工作效率。

        手勢快捷導(dǎo)航手勢快捷導(dǎo)航
        防碰撞技術(shù)

        采取多維度的防碰撞方案:
        1. 手動輸入樣品高度,精準控制樣品與物鏡下端距離,防止發(fā)生碰撞;
        2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術(shù),運動過程中對倉內(nèi)的畫面進行實時監(jiān)測;
        3. 硬件防碰撞,可在碰撞一瞬間停止電機,減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

        防碰撞技術(shù)

        特色功能

        智能輔助消像散

        直觀反映整個視野的像散程度,通過鼠標點擊清晰處,可快速調(diào)節(jié)像散至最佳。

        智能輔助消像散操作圖智能輔助消像散結(jié)果圖
        自動聚焦

        一鍵聚焦,快速成像。

        自動聚焦操作圖自動聚焦結(jié)果圖
        自動消像散

        一鍵消像散,提高工作效率。

        自動消像散操作圖自動消像散結(jié)果圖
        自動亮度對比度

        一鍵自動亮度對比度,調(diào)出灰度合適圖像。

        自動亮度對比操作圖自動亮度對比結(jié)果圖
        多種信息同時成像

        SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像??赏瑫r觀察到樣品的形貌信息和
        成分信息。

        多種信息同時成像BSE多種信息同時成像SE
        多種信息同時成像BSE+SE
        快速圖像旋轉(zhuǎn)

        拖動一條線,圖像立刻“擺正角度"。

        快速圖像旋轉(zhuǎn)操作圖快速圖像旋轉(zhuǎn)結(jié)果圖

        豐富拓展性

        掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析。
        SEM3200接口豐富,除支持常規(guī)的二次電子探測器(ETD)、背散射電子探測器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預(yù)留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測器都可以在SEM3200上進行集成。

        背散射電子探測器
        二次電子成像和背散射電子成像對比

        背散射電子成像模式下,荷電效應(yīng)明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

        鍍層樣品:

        鍍層樣品SE鍍層樣品BSE

        鎢鋼合金樣品:

        鎢鋼合金樣品SE鎢鋼合金樣品BSE
        四分割背散射電子探測器——多通道成像

        探測器設(shè)計精巧,靈敏度高,采用4分割設(shè)計,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

        四個單通道的陰影像

        成分像

        能譜

        LED小燈珠能譜面分析結(jié)果。

        電子背散射衍射

        鎢燈絲電鏡束流大,滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠?qū)饘?、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。
        該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對材料組織結(jié)構(gòu)進行精確判斷。


        應(yīng)用案例

        普通芯片-1

        普通芯片-1

        普通芯片-2

        普通芯片-2

        負極-碳

        負極-碳

        負極-碳包硅

        負極-碳包硅

        正極-鈷酸鋰

        正極-鈷酸鋰

        正極-錳酸鋰

        正極-錳酸鋰

        太陽能電池-1

        太陽能電池-1

        太陽能電池-2

        太陽能電池-2

        高分子泡沫

        高分子泡沫

        催化劑-MOF材料

        催化劑-MOF材料

        2A12鋁合金析出相

        2A12鋁合金析出相

        Mg-Zn合金化合物層

        Mg-Zn合金化合物層

        不銹鋼-黃銅焊接件

        不銹鋼-黃銅焊接件

        鈦合金基體組織

        鈦合金基體組織

        合金斷口脆性+韌性

        合金斷口脆性+韌性

        韌性斷口

        韌性斷口

        鋼鐵夾雜物BSE

        鋼鐵夾雜物BSE

        鋼鐵夾雜物SE

        鋼鐵夾雜物SE

        硅藻-1

        硅藻-1

        硅藻-2

        硅藻-2

        雞葡萄球菌-1

        雞葡萄球菌-1

        雞葡萄球菌-2

        雞葡萄球菌-2

        大米

        大米

        糯米淀粉顆粒-1

        糯米淀粉顆粒-1

        糯米淀粉顆粒-2

        糯米淀粉顆粒-2

        受潮鹽顆粒

        受潮鹽顆粒

        粉體-鈦酸鋇

        粉體-鈦酸鋇

        粉體-硫酸鎂

        粉體-liusuan鎂

        粉體-氧化鋁

        粉體-氧化鋁

        過濾功能材料

        過濾功能材料

        巖石

        巖石

        納米材料-二氧化硅微球

        納米材料-二氧化硅微球

        SiC陶瓷BSE

        SiC陶瓷BSE

        SiC陶瓷SE

        SiC陶瓷SE

        陶瓷復(fù)合材料

        陶瓷復(fù)合材料

        產(chǎn)品參數(shù)

        型號SEM3200ASEM3200
        電子光學系統(tǒng)電子槍類型預(yù)對中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍
        分辨率高真空3 nm @ 30 kV(SE)
        4 nm @ 30 kV(BSE)
        8 nm @ 3 kV(SE)
        *低真空3 nm @ 30 kV(SE)
        放大倍率1-300,000x(底片倍率)
        1-1000,000x(屏幕倍)
        加速電壓0.2 kV~30 kV
        成像系統(tǒng)探測器二次電子探測器(ETD)
        *背散射電子探測器、*低真空二次電子探測器、*能譜儀EDS等
        圖像保存格式TIFF、JPG、BMP、PNG
        真空系統(tǒng)真空模式高真空優(yōu)于5×10-4 Pa
        *低真空5~1000 Pa
        控制方式全自動控制
        樣品室攝像頭光學導(dǎo)航
        樣品倉內(nèi)監(jiān)控
        樣品臺配置三軸自動五軸自動
        行程X: 120 mmX: 120 mm
        Y: 115 mmY: 115 mm
        Z: 50 mmZ: 50 mm
        /R: 360°
        /T: -10°~ +90°
        軟件語言中文
        操作系統(tǒng)Windows
        導(dǎo)航光學導(dǎo)航、手勢快速導(dǎo)航
        自動功能自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
        特色功能智能輔助消像散、*大圖拼接(選配軟件)
        安裝要求房間長 ≥ 3000 mm,寬 ≥ 4000 mm,高 ≥ 2300 mm
        溫度20 ℃~25 ℃
        濕度≤ 50 %
        電氣參數(shù)電源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA
        掃描電子顯微鏡SEM3200





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